FLIR X-HS系列高端红外热像仪是一款集精密测量与广泛应用性于一体的高性能科学级设备。它凭借卓越的探测技术和精密算法，能够在-80°C至+3000°C的宽温度范围内识别细微至0.02°C的温度变化。
特别值得一提的是，FLIR X-HS系列热像仪配备了高达4TB的大容量高速固态硬盘(SSD)无损记录系统，可确保每一次红外图像采集与数据传输都能以高保真度进行长时间、不间断的保存。无遗漏、无失真，这对于需要连续监测、高精度数据记录的科研、国防及工业领域而言，无疑是具有突破性的。
结合其中波红外(MWIR)和长波红外(LWIR)光谱的兼容性，以及10GigE和CoaXPress(CXP)2.1的高速接口，FLIR X-HS系列热像仪不仅满足了严苛的科研需求，更成为科学家、工程师、研究人员及质量保证经理等专业人士在复杂测试场景中不可或缺的得力助手。
著作权归作者所有。
商业转载请联系作者获得授权，非商业转载请注明出处。
链接： https://www.instrument.com.cn/news/20250116/764633.shtml
来源：仪器信息网
